第113回歯科医師国家試験 C15

1→FMIAは下顎中切歯歯軸傾斜とフランクフルト平面のなす角度である。側面頭部エックス線規格写真から得られる。

2→上顎突出度はNA平面とAPogのなす角度で側面頭部エックス線規格写真分析から得られる。

3→咬合平面傾斜角は咬合平面とフランクフルト平面のなす角度で側面頭部エックス線規格写真から得られる。

4→歯槽基底弓幅径は左右の第一小臼歯の根尖相当部の歯肉最深部の距離である。模型から得られる。

5→Total discrepancyはアーチレングスディスクレパンシーとヘッドプレートコレクションから求められる。前者は模型から測定できるが、後者は側面頭部エックス線規格写真から得られる情報である。